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TCT溫度循環測試箱標準機型有：100L、150L、225L、408L、800L、1000L的內箱尺寸；
備注：50L~100L及1000L以上是非標定製產品，具體規格參數以方案書為準。
低溫可選：-80℃、-70℃、-60℃、-40℃、-20 ℃、0℃和常溫；
高溫可選：+150℃、+180℃、+200℃；
濕度範圍有：20%~98%RH（非標可選：5%~~98%RH、10%~98%RH）
TCT溫度循環測試箱適合電子元器件，半導體IC、芯片、光伏組件，電器，食品，車輛，金屬，化學，建材等工廠，科研單位，院校之用。
TCT溫度循環測試箱（Temperature Cycling Test）是利用高溫低溫循環變化測試來評估電子元器件、半導體、IC芯片等產品對溫度變化的抵抗能力。主要是利用高溫低溫循環變化，來測試電子元器件、半導體、IC芯片等產品上各層不同物質之熱膨脹俘數不同，而可能引起之故障機製。在此測試中因所用之溫度介質為氣相，故一般亦稱為air to air測試。
滿足GB/T2423.1(IEC60068-2-1)；GB/T2423.2(IEC60068-2-2)；
ISO16750；GB/T14710；GB/T13543；
JESD22等係列標準中的溫度試驗。
準時交貨率高達99% 立即谘詢
高度穩定
恒定狀態波動低於±0.3℃；
極限低溫
超低溫試驗可達-85℃，亦可做液氮控溫，低溫可達-200℃；
控製器
控製器具有可進行可靠性試驗用的恒定值運轉設定，還有針對溫度特性試驗用的溫濕度組合交變等的編程設定功能 。
濕度範圍廣
高性能設備極限達95℃98%R.H
現場報警
現場溫濕度偏差聲光報警,獨立超溫報警
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