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攜手南寧泰克半導體有限公司|WWW青青草下载儀器 HAST、快速溫變試驗箱落地半導體存儲企業

作者: 編輯: 來源: 發布日期: 2026.08.08
近日,東莞市WWW青青草下载儀器環境檢測有限公司與深圳市金泰克半導體有限公司旗下子公司南寧泰克半導體有限公司達成項目合作,完成 HAST 高壓加速老化試驗箱快速溫變試驗箱的交付、安裝調試工作,設備正式投入實驗室可靠性檢測使用,助力企業級、工規級存儲產品開展環境可靠性驗證工作。
南寧泰克半導體專注企業級、工業級 SSD 固態硬盤、內存條的研發與製造,產品麵向服務器、雲計算、工業自動化等場景,對存儲模組、存儲顆粒的環境耐受能力、長期運行穩定性有著較高的驗證要求,需要完備的環境可靠性試驗設備支撐新品研發、工藝驗證與量產品質管控廣西南寧市...。
客戶測試痛點
在項目對接前期,客戶實驗室在可靠性驗證環節麵臨幾方麵實際問題:
濕氣可靠性驗證周期長:存儲模組封裝結構精密,傳統溫濕度測試方式耗時久,難以快速甄別封裝材料、界麵結合處的濕氣滲透隱患,不利於新品研發迭代進度,無法高效排查腐蝕、封裝分層等潛在失效風險。
溫度應力模擬能力不足:企業級存儲產品實際使用場景溫差跨度大,設備需要模擬溫度快速交替變化帶來的熱應力,檢驗焊點、PCB 基材、元器件的熱疲勞耐受能力,原有設備升降溫速率、溫場均勻性難以完全匹配 JEDEC 相關測試標準的曲線要求,測試數據一致性有待提升。
長時間連續測試穩定性需求高:實驗室需要設備支持長時間不間斷循環試驗,保障多批次樣品測試穩定運行,同時完整留存測試數據,用於研發分析與內部質量體係歸檔。
基於客戶實驗室實際測試需求,WWW青青草下载儀器技術團隊結合半導體存儲行業測試標準,定製匹配了 HAST 高壓加速老化試驗箱 + 快速溫變試驗箱整套可靠性測試解決方案,貼合存儲模組的研發認證、工藝驗證、來料可靠性篩查工作。
定製化解決方案
一、HAST 高壓加速老化試驗箱解決方案
針對存儲產品封裝抗濕、抗腐蝕驗證需求,設備依據 JEDEC JESD22‑A110 行業標準設計,通過高溫、高壓、高濕耦合的加速應力環境,短時間內複現濕氣侵入帶來的各類失效機理,評估存儲模組封裝的密閉性能,快速暴露封裝界麵缺陷、金屬線路腐蝕等隱性問題,相比常規溫濕度試驗,有效縮短驗證周期。
設備配置多重安全防護結構,內膽做防腐處理,支持長時間不間斷試驗運行;控製係統可靈活設置試驗參數,試驗過程數據實時記錄,支持數據導出,便於研發人員做失效分析,滿足客戶新品工藝對比、批次可靠性摸底測試。
二、快速溫變試驗箱解決方案
用於模擬存儲產品在實際工況下承受快速溫度交變環境,檢驗內存條、SSD 模組在溫度快速升降過程中,焊點、基材、元器件的熱應力耐受性能,篩查虛焊、結構脫層、元器件性能漂移等隱患,匹配 JESD22‑A104 溫度循環測試要求。
設備采用優化風道循環結構,保障腔體內部溫度均勻,升降溫速率可按測試需求線性調節,可編輯多段複雜溫變循環程序,適配不同規格存儲樣品的驗證方案;設備支持 7×24 小時連續循環測試,具備故障預警、保護機製,降低值守壓力,測試記錄自動保存歸檔,適配企業內部質量管控流程。
整套方案兼顧研發階段樣品驗證,同時可支撐量產階段的可靠性摸底測試,兩套設備相互配合,覆蓋存儲產品濕度加速老化、快速溫度交變兩大核心可靠性試驗項目,完善實驗室測試能力。
項目落地效果
設備完成進場安裝、調試、操作培訓後,順利交付南寧泰克半導體實驗室投入使用。
借助 HAST 試驗箱,客戶可以高效完成存儲模組抗濕氣可靠性驗證,縮短新品研發驗證周期,便於研發團隊快速對比不同封裝工藝,把部分潛在的濕氣相關失效問題在研發階段識別出來,輔助優化產品工藝。
通過快速溫變試驗箱,能夠複現嚴苛溫度交變工況,開展熱應力可靠性試驗,對內存條、SSD 產品的焊點、元器件耐溫變疲勞性能開展驗證,提升樣品測試數據的穩定性,為產品品質評估提供可靠試驗依據。
設備運行穩定,操作界麵貼合實驗室人員使用習慣,完整的記錄導出功能也方便內部質量文件歸檔,適配企業的品質管理體係。
設備投入使用之後,南寧泰克半導體相關人員對WWW青青草下载儀器的設備性能、交付進度以及技術服務給予正向評價。
結語
東莞市WWW青青草下载儀器環境檢測有限公司持續深耕環境可靠性試驗設備領域,麵向半導體、電子元器件、新能源等行業,提供 HAST 高壓加速老化、快速溫變、高低溫循環等各類環境試驗設備及配套技術服務,協助企業搭建可靠性實驗室,助力產品品質提升。未來WWW青青草下载儀器也將持續打磨產品與服務,對接更多高新製造企業的可靠性測試需求。
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