高壓加速老化試驗箱

溫度範圍:105°C~155°C控製精度:±0.5°C濕度範圍:65%RH~100%RH壓力範圍:+0.2~3.5kg使用時間:可持續使用500小時+升溫時間:約70分鍾(從室溫到120°C、85%RH到達時間)試驗數據可以導出為Excel格式並通過USB接口進行傳輸

PCT高壓加速老化試驗箱

WWW青青草下载PCT高壓加速老化試驗箱可滿足IEC60068-2-66、JESDEC-A110、A118規範要求，3種控製模式包含：不飽和控製(幹濕球溫度控製)、不飽和控製(升溫溫度控製)、濕潤飽和控製。溫度範圍：100℃→+132℃(飽和蒸氣溫度)或100℃→+143℃(飽和蒸氣溫度)壓力範圍：0.2～2㎏/㎝2(0.05～0.196MPa)或0.2～3㎏/㎝2(0.05～0.294MPa)加壓時間：約55min溫度均勻度：≤±0.5℃溫度波動度：≤±0.5℃濕度範圍：100%RH(飽和蒸氣濕度)

HAST非飽和高壓加速老化試驗機

溫度範圍:105°C~155°C控製精度:±0.5°C濕度範圍:65%RH~100%RH壓力範圍:+0.2~3.5kg使用時間:可持續使用1000小時+本設備廣泛用於IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、光伏組件等行業加速老化壽命試驗。

HAST非飽和高壓加速老化試驗箱

內箱容積（圓桶）：￠300×D450、￠400×D550溫度範圍：+110～+132℃、+110℃～+147℃壓力範圍：壓力表+0.2～2.0kg/cm²、壓力表+0.2～3.0kg/cm²、壓力表+0.3～3.5kg/cm²濕度範圍：65%～100%R.H(可調)適用範圍：本設備廣泛用於IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業相關之產品作加速老化壽命試驗。

PCT飽和高壓加速老化試驗箱

內箱容積mm（圓桶）：￠300×D450、￠400×D550溫度範圍：+110～+132℃、+110℃～+147℃壓力範圍：壓力表+0.2～2.0kg/cm²、壓力表+0.2～3.5kg/cm²濕度範圍：100%R.H（飽和蒸汽）適用範圍：一般適用於印刷線路板（PCB或FPC）、半導體、金屬、磁性材料、電子元器件、高分子材料等

PCT高壓加速老化試驗機

溫度範圍：A(110℃～132℃);B(110℃～147℃)壓力範圍A：(壓力表+0.2～2.0kg/cm²);B(壓力表+0.2～3.5kg/cm²)濕度範圍：100%R.H(飽和蒸汽)加壓時間：約45min

HAST高壓加速老化試驗箱

可按需定製溫度範圍：A(105℃～132℃)；B(105℃～142.9℃)；C(105℃～155℃)可選壓力範圍：A(壓力表+0.2～2.0kg/cm)；B(壓力表+0.2～3.0kg/cm)；C(壓力表+0.2～3.5kg/cm)濕度範圍：65%～100%R.H(可調)濕度波動度：非飽和控製：±2.5%R.H、濕潤飽和控製：100%R.HHAST高壓加速老化試驗箱是在非飽和濕度（65%～100%RH可調）、溫度、壓力等條件下，檢測產品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設備。

深圳市科信技術股份有限公司選擇WWW青青草下载儀器非飽和高壓加速老化試驗箱

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